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Elektromagnetische Verträglichkeit

Einleitung

Die elektromagnetische Verträglichkeit (EMV) betrachtet die Störaussendung und Störfestigkeit von elektronischen Systemen und ist wesentlich für die Zuverlässigkeit von Kfz-Elektronik. Die Funktionalität der Fahrzeugkomponenten kann durch gegenseitige elektromagnetische Beeinflussung stark beeinträchtigt werden. Im schlimmsten Fall kann es zu Systemausfällen kommen. Deshalb muss das EMV-Verhalten aller Komponenten durch besondere Analysen und Prüfungen sichergestellt werden.

Die Funktionalität einzelner ICs und elektronischer Systeme unter elektromagnetischer Beeinflussung kann durch Messungen und zum Teil virtuell durch Simulationen sichergestellt werden. Auch das Störaussendungsverhalten kann messtechnisch und teilweise simulatorisch bestimmt werden. Bei der Simulation kommen 3D-Feld- und Schaltungssimulationen zum Einsatz.

Innerhalb verschiedener Forschungsvorhaben, die in der Regel mit Industriepartnern durchgeführt werden, werden Methoden für die Bestimmung des EMV-Verhaltens von elektronischen Einzelkomponenten bis hin zu Kfz-Gesamtsystemen entwickelt. Themengebiete sind:

  • Modellierung von Störfestigkeitsprüfungen für ICs und System
  • Modellierung des EMV-Verhaltens von ICs und Systemen
  • Feld-Scan-Verfahren zur Bestimmung der Störaussendung von Komponenten und Systemen
  • Entwicklung neuer EMV-Messmethoden

Methoden

Störfestigkeit

Methoden für die Modellierung der Störfestigkeit verschiedener typischer Kfz-Komponenten wurden entwickelt. Mit Hilfe von BCI- und DPI-Modellen kann das EMV-Verhalten durch Simulationen vorhergesagt werden.

Störaussendung

Mit Feld-Scan-Verfahren können wesentlich mehr Informationen über ein störendes System gewonnen werden als mit den konventionellen Feldmessungen an einem Punkt. Besonders für Anwendungen im Kfz werden spezielle Methoden entwickelt. Die Korrektur von ungenauen und verrauschten Messdaten sowie die Beschleunigung der Messungen durch Feld-Scan-Verfahren stehen im Vordergrund.

Neben den Scan-Verfahren bilden schnelle Methoden für die Berechnung der Abstrahlung von Leitungen ein wichtiges Forschungsgebiet.

Weiterführende Informationen

 

Modeling of Bulk Current Injection (BCI) Setups for Virtual Automotive IC Tests

Modeling of Automotive Bus Transceivers and ESD Protection Circuits for Immunity Simulations of Extended Networks

Comparison of EMC Immunity Test Methods for Automotive Electronics at IC and System Level

Far Field Estimations and Simulation Model Creation from Cable Bundle Scans

Optimization Methods for Equivalent Source Identification and Electromagnetic Model Creation based on Near Field Measurements

Simulationsmodell
CVP
platine_stoeraussendung

 



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Kontakt

Prof. Dr.-Ing. Stephan Frei
Leiter Arbeitsgebiet
Tel.: 0231 755-5980